• Ю.И. Журавлев - председатель - Научный совет по комплексной проблеме "Кибернетика" РАН, Россия
• Ю.И. Шокин - сопредседатель - ИВТ СО РАН, Россия
• С.Т. Васьков - зам. председателя - ИАиЭ СО РАН, Россия
• О.И. Потатуркин- ученый секретарь - ИАиЭ СО РАН, Россия

• С.В. Алексеенко - ИТ СО РАН, Россия
• А.Л. Асеев - ИФП СО РАН, Россия
• С.Н. Васильев - ИДСТУ СО РАН, Россия
• А.С. Востриков - НГТУ, Россия
• И.Б. Гуревич - Научный совет по комплексной проблеме "Кибернетика" РАН, Россия
• Н.С. Диканский - НГУ, Россия
• Ю.Ф. Кирюшин - АГУ, Россия
• М.М. Лаврентьев - ИМ СО РАН, Россия
• А.Г. Марчук - ИСИ СО РАН, Россия
• Б.Г. Михайленко - ИВМ и МГ СО РАН, Россия
• Г.М. Собстель - КТИ ВТ СО РАН, Россия
• В.А. Сойфер - ИСОИ РАН, Россия
• В.М. Фомин - ИТПМ СО РАН, Россия
• Ю.В. Чугуй - КТИ НП СО РАН, Россия
• В.В. Шайдуров - ИВМ СО РАН, Россия

• Ю.И. Шокин - председатель - ИВТ СО РАН, Россия
• О.И. Потатуркин - зам. председателя - ИАиЭ СО РАН, Россия
• К.И. Будников - ученый секретарь - ИАиЭ СО РАН, Россия

• И.М. Бобко - СИОТ РАО, Россия
• Ю.Г. Васин - НИИ ПМК ННГУ, Россия
• А.Н. Горбань - ИВМ СО РАН, Россия
• В.В. Губарев - НГТУ, Россия
• Б.С. Долговесов - ИАиЭ СО РАН, Россия
• Н.Г. Загоруйко - ИМ СО РАН, Россия
• Ю.Н. Золотухин - ИАиЭ СО РАН, Россия
• В.С. Киричук - ИАиЭ СО РАН, Россия
• И.Ф. Клисторин - ИАиЭ СО РАН, Россия
• А.Н. Колесников - ИАиЭ СО РАН, Россия
• Н.А. Колчанов - ИЦиГ СО РАН, Россия
• В.П. Косых - ИАиЭ СО РАН, Россия
• В.И. Козик - ИАиЭ СО РАН, Россия
• Э.А. Купер - ИЯФ СО РАН, Россия
• М.М. Лаврентьев (мл.) - НГУ, Россия
• Г.Г. Левин - МГТУ, Россия
• А.В. Максимов - АГУ, Россия
• С.В. Мухляев - ИАиЭ СО РАН, Россия
• В.В. Моттль - ТулГУ, Россия
• Е.С.Нежевенко - ИАиЭ СО РАН, Россия
• Ю.В. Обухов - ИРЭ РАН, Россия
• А.Г. Полещук - ИАиЭ СО РАН, Россия
• А.К. Поташников - КТИ НП СО РАН, Россия

• И.В. Поттосин, ИСИ СО РАН, Россия

• В.П. Пяткин - ИВМ и МГ СО РАН, Россия
• А.Л. Резник - ИАиЭ СО РАН, Россия
• Б.М. Рогачевский - НГТУ, Россия
• Г.И. Салов - ИВМиМГ СО РАН, Россия
• В.В. Сергеев - ИСОИ РАН, Россия
• А.Ф. Серов - ИТ СО РАН, Россия
• В.С. Соболев - ИАиЭ СО РАН, Россия
• О.Е. Трофимов - ИАиЭ СО РАН, Россия
• А.М. Федотов - ИВТ СО РАН, Россия
• В.Г. Хорошевский - ИФП СО РАН, Россия
• M. Aldeen - University of Melbourne, Australia
• Y. Apte - Indian Institute of Technology, India
• S.P. Banks - University of Sheffield, UK
• F.-R. Chang - National Taiwan University, Taiwan
• C.-L. Chen - National Cheng Kung University, Taiwan
• W. Chen - Laboratory of Systems and Control, PR China
• J.A.M.F. De Souza - University of Biera Interior, Portugal
• J. F. De Canete - University of Malaga, Spain
• R. Devanathan - Nanyang Technological University, Singapore
• S.S. Ge - National University of Singapore, Singapore
• I. Hanazaki - Tokyo Denki University, Japan
• J.C.-C. Hsu - St. John's and St. Mary's Institute of Technology, Taiwan
• A. Isapour - Azad University Research and Science Center, Iran
• H. Jaddu - Japan Advanced Institute of Science and Technology, Japan
• G. James - Coventry University, UK
• J.-G. Juang - National Taiwan Ocean University, Taiwan
• W.-H. Lee - Pohang Iron and Steel Co. Ltd., Korea
• H.H.T. Liu - University of Toronto, Canada
• M.S. Mahmoud - Kuwait University, Kuwait
• J.L. Martinez Rodriguez - University of Malaga, Spain
• T. Narikiyo - Toyota Technological Institute, Japan
• M.-H. Perng - National Tsing Hua University, Taiwan
• A.B. Rad - Hong Kong Polytechnic University, PR China
• B. Riyanto - Bandung Institute of Technology, Indonesia
• M. Rouff - LUSAC/University of Caen Basse Normandie, France
• J.M.G. Sa da Costa - Technical University of Lisbon, Portugal
• B. Sohlberg - Dalarna University, Sweden
• J. Stecha - Czech Technical University, Czech Republic
• K.K. Tan - National University of Singapore, Singapore
• A. Tapia - University of the Basque Country, Spain
• S.M. Veres - University of Southhampton, UK
• J. Vittek - University of Zilina, Slovakia
• K. Wojciechowski - Silesian Technical University, Poland
• T. Yamamoto - Hiroshima University, Japan

Institute of Automation and Electrometry