Методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изучена поверхность кристаллов пирротина различного состава, полученных в гидротермальных условиях в присутствии примесей (Cd, As) и в их отсутствии (рис.1). Показано, что различные морфологические типы кристаллов с одинаковой объемной стехиометрией отличаются по химическому составу поверхности и распределению по глубине поверхностного слоя как основных, так и примесных элементов. Данные рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии указывают на существенные различия в составах поверхност ных слоев пирротинов с разным соотношением железа и серы. Наименее стехиометрический пирротин, полученный вблизи границы с полем пирита, содержит на поверхности соединения со связями S—S или элементную серу; пирротин, близкий к стехиометрии, — сульфидную, сульфитную и сульфатную серу и, наконец, стехиометрический пирротин — только сульфидную
 Рис. 1. Профили концентраций элементов вглубь кристаллов пирротина различного состава пластинчатой (пл.) и изометричной (из.) формы по данным оже-спектроскопии с ионным травлением.
|
